机内测试技术发展趋势分析

• 作者: 刘冠军 徐永成 易晓山 温熙森
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 机内测试 故障诊断 自动测试设备 智能理论
• 年，卷（期）: 2001,（8）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN06
• 字数: 5340字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2001.08.001

摘要

近20年来,机内测试(BIT,Built-In Test)技术从理论到应用取得了显著进展,已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径,并大量应用于大型军用装备、航空航天系统当中,应用范围正进一步扩展到民用大型复杂设备.本文从BIT与ATE的日渐融合、机电BIT发展方向、BIT发展为集状态监控、故障诊断、控制决策于一体的综合系统、智能理论与技术在BIT中的应用等4个方面详细分析了BIT理论与技术的发展趋势,对我国相关领域特别是军事工业领域BIT的深入研究与应用具有一定参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘冠军	国防科技大学机电工程与自动化学院	88	860	18.0	23.0
2	温熙森	国防科技大学机电工程与自动化学院	96	1778	24.0	38.0
3	徐永成	国防科技大学机电工程与自动化学院	31	497	14.0	22.0
4	易晓山	国防科技大学机电工程与自动化学院	24	268	10.0	15.0