常用通信接口芯片过电压耐受能力

• 作者: 刘永石 周文俊 张洪义 王继业 陈学东
• 来源期刊: 高电压技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 过电压 试验 耐受能力
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 电磁兼容
• 页码范围: 41-43,56
• 页数: 4页
• 分类号: TN43|TM86
• 字数: 1817字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2001.04.017

摘要

给出了5种计算机常用通信接口芯片耐受雷电冲击、工频过电压和直流过电压的试验结果,提出了通信接口芯片进行过电压防护的建议:工作电压为5 V的微电子器件其防雷保护水平≤2.5倍额定工作电压;对过电压防护要求特别严格的微电子器件其最低耐受电压采用1.5倍正常工作电压作为其最高残压.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周文俊	武汉大学电气工程学院	159	2205	25.0	40.0
2	王继业		1	13	1.0	1.0
3	张洪义		2	16	2.0	2.0
4	刘永石		1	13	1.0	1.0
5	陈学东		2	14	1.0	2.0