产品的响应与消除次冲击

• 作者: 于治会
• 来源期刊: 电气开关
• 学科: 工学
• 关键词: 主冲击 次冲击 系统响应 产品损坏 消除次冲击
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 理论分析与计算
• 页码范围: 17-21,32
• 页数: 6页
• 分类号: TH871.4
• 字数: 3981字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-289X.2001.02.006

摘要

本文阐述了在跌落冲击试验时主冲击与次冲击的特点.计算了产品模型对一个单次冲击循环的响应,并分析了产品损坏的原因.当产品进行精密冲击试验时,消除次冲击是很有必要的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于治会		74	121	7.0	10.0