黑箱条件下的软件测试充分性与揭错能力分析

• 作者: 吴芳美 虞翊
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 黑箱 软件测试 充分性 揭错能力 安全性
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 博士论文
• 页码范围: 74-76
• 页数: 3页
• 分类号: TP311.1
• 字数: 4920字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2001.06.031

摘要

在白箱条件下,软件的测试充分性可通过语句覆盖、判定覆盖、条件覆盖、判定/条件覆盖和路径覆盖等方法进行度量.但在黑箱情况下,这些基于程序的覆盖度量方法不再实用,为此提出了基于程序外部特性的测试充分性,即基于功能覆盖的软件测试充分性概念.然而对于一个较复杂的安全性关键软件仅仅满足功能覆盖的软件测试充分性是不够的,应增加安全性扩充测试.经过对黑箱条件下的软件测试技术揭错能力的分析,得出了基于第3方的软件安全性测试技术在理论上有条件发现所有的软件危害故障的结论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴芳美	同济大学电子与信息工程学院	32	431	12.0	20.0
2	虞翊	同济大学电子与信息工程学院	15	91	4.0	9.0