基于VXI仪器的电路板故障诊断系统

• 作者: 夏立 张巍 杨宣仿
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电路板 VXI总线 故障诊断 离散事件系统
• 年，卷（期）: 2001,（11）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 57-59
• 页数: 3页
• 分类号: TP277
• 字数: 4021字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2001.11.019

摘要

介绍了研制中的基于VXI总线技术组建的电路板故障诊断系统,并就其硬件和软件的组成进行较为详细的探讨.针对待测电路板许多属于数模混合类型,作为软件核心部分的测试诊断数据库的建立采用了离散事件系统法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	夏立	海军工程大学电气工程系	113	1509	19.0	32.0
2	张巍	海军工程大学电气工程系	17	109	6.0	9.0
3	杨宣仿	海军工程大学电气工程系	1	6	1.0	1.0