压力对NaAlSi3O8熔体结构影响的实验研究

• 作者: 丁东业 孙樯 苏根利 谢鸿森 郑海飞 郭捷
• 来源期刊: 自然科学进展
• 学科: 地球科学
• 关键词: 钠长石玻璃 熔体结构 压力 Raman光谱
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 582-587
• 页数: 6页
• 分类号: P5
• 字数: 3905字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-008X.2001.06.005

摘要

通过对NaAlSi3O8熔体的玻璃进行Raman光谱研究,发现随着压力升高(105Pa～2.0 GPa),(1)低频区(50～650 cm-1)不断变窄并向高频方向移动;(2)高频区(850～1300cm-1)不断变窄且向低频区方向移动;(3)580 cm-1谱峰强度不断减弱,并在(0.8～1.0)GPa时最为显著.这是因为随着压力升高T-O-T(T=Si,Al)键角(θ)不断减小,并且分布范围变窄;而580 cm-1谱峰的变化则由于在(0.8～1.0)GPa时包含Si,Al的平面三元环结构的"垮塌”造成的.钠长石熔体结构随压力升高的这种变化特征为其粘度变化所证实.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢鸿森	中国科学院地球化学研究所	79	710	16.0	22.0
2	郭捷	中国科学院地球化学研究所	55	559	14.0	20.0
3	郑海飞	北京大学地质系	79	705	14.0	22.0
4	苏根利	中国科学院地球化学研究所	22	435	8.0	20.0
5	孙樯	中国科学院地球化学研究所	8	152	4.0	8.0
6	丁东业	中国科学院地球化学研究所	12	175	5.0	12.0