电解液痕量元素的全反射X射线荧光分析

• 作者: 李振坤 王志国 郝冀方
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 化学
• 关键词: 全反射X射线荧光谱学 镍电解液 痕量元素定量分析
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 页码范围: 199-204
• 页数: 6页
• 分类号: O657.31
• 字数: 3971字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2001.03.009

摘要

介绍了全反射X射线荧光分析(TXRFS)技术在日常分析中的应用可行性。在一个被分析的镍电解液中，测出痕量元素Zn和Pb的浓度分别为0.1ng/μL和3.5ng/μL。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王志国	中国科学院近代物理研究所	27	58	5.0	5.0
2	郝冀方	中国科学院近代物理研究所	9	78	3.0	8.0
3	李振坤	中国科学院近代物理研究所	1	0	0.0	0.0