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摘要:
多孔硅表面的解吸离子化质谱是一种新的生物质谱分析方法.克服了MALDI-TOF-MS中的基体干扰,适合进行小分子分析.提出了新的样品制备方法,可以扩大测定范围,消除吸附杂质的干扰.发现该方法与多孔硅的光致发光特性及表面疏水性无关.具有纳米结构的多孔硅作为该方法中能量的接收器.利用DIOS方法分析了氨基酸、肽、蛋白、糖等样品.此方法用于环糊精合成产物的分析,也得到了较好的结果.
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文献信息
篇名 多孔硅表面的激光解吸离子化质谱
来源期刊 分析化学 学科 化学
关键词 多孔硅 解吸离子化质谱 小分子分析
年,卷(期) 2001,(12) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 1365-1369
页数 5页 分类号 O65
字数 4418字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-3820.2001.12.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张强 194 3858 32.0 57.0
2 邹汉法 68 957 20.0 28.0
3 陈小明 18 288 9.0 16.0
4 倪坚毅 17 266 9.0 16.0
5 郭忠 3 29 3.0 3.0
6 张清春 11 122 5.0 11.0
7 姜泓海 2 36 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
多孔硅
解吸离子化质谱
小分子分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
分析化学
月刊
0253-3820
22-1125/O6
大16开
长春人民大街5625号
12-6
1972
chi
出版文献量(篇)
9636
总下载数(次)
16
总被引数(次)
112365
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