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摘要:
提出了一种非接触光学法--单光栅双图像法测量物体大位移的新技术.利用两个正交的图像记录系统,在试件作大位移后,记录被平行多光束照射形成的光点所覆盖的试件的图像,借助于记录光路系统几何参数,可建立一联立方程组.解此方程组,就可得到被测物体上诸光点所表示的测点的位移大小和坐标值.文中还论述了试件图像上测点位置的确定和修正方法,导出了被测物体图像负片上测点的实际坐标的计算公式.实验结果证明,本文提出的测量理论是正确的.
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文献信息
篇名 非接触光测物体大位移研究
来源期刊 南京航空航天大学学报 学科 工学
关键词 光测法 双图像 单光栅 大位移 测点位置修正 非接触光测法
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 386-389
页数 4页 分类号 TH822|O348.11|TN249
字数 2619字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-2615.2001.04.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李季平 南京航空航天大学理学院 13 44 4.0 6.0
2 蔡云良 南京航空航天大学理学院 9 44 4.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
光测法
双图像
单光栅
大位移
测点位置修正
非接触光测法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
南京航空航天大学学报
双月刊
1005-2615
32-1429/V
大16开
南京市御道街29号1016信箱
28-140
1956
chi
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3509
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9
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