小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

• 作者: DONG Bao-Zhong LIU YI WANG JUN 吴东 孙予罕 巩雁军 李志宏 柳义 王俊 董宝中
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 小角X射线散射 溶胶 平均界面厚度
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质：结构、热学和力学性质
• 页码范围: 1128-1131
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 2128字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2001.06.024

摘要

溶胶界面层厚度通常是用Porod法对高角区负偏离的Porod曲线进行拟合求算，但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度.应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度.