XPS谱在磁光介质可靠性分析中的应用

• 作者: 张鹰 李言荣 杨成韬
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 磁光介质 多层膜 可靠性 XPS能谱
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 128-133
• 页数: 5页
• 分类号: O653
• 字数: 1040字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2001.02.005

摘要

通过对单层结构和多层结构的磁光记录介质TbFeCo在常温环境气氛条件和高温加速应力条件下的可靠性对比实验，以及对组成元素的XPS光电子能谱分析，证明了只有经过多层结构保护处理的磁光记录介质才具有高的稳定性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹰	电子科技大学光电记录技术中心	47	169	7.0	9.0
2	李言荣	电子科技大学光电记录技术中心	115	824	15.0	21.0
3	杨成韬	电子科技大学光电记录技术中心	67	255	8.0	12.0