开放结构的集成电路ATE测试系统

• 作者: 钱量
• 来源期刊: 世界产品与技术
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 仪器仪表
• 页码范围: 55-57
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

1950年代是测量仪器从真空管到半导体器件的过渡时期,测量仪器业界空前活跃,新产品不断出现,性能明显提高.1960年代初半导体集成电路登场,需要多种测量仪器的组合,促进测量仪器的自动化和自动化测量系统的发展.当时,通用测量仪器公司以HP和TEK为代表,分别从台式仪器出发,利用外部控制器和开关阵列构成早期的程控测试系统,而半导体测量仪器公司以Fairchild和GenRad为代表,它们以电路板和集成电路的多引脚为出发点,发展专用的测量仪器和自动测试设备(ATE).