二维Manhattan格点上端点附壁自避行走的计算机模拟

• 作者: 吴大诚 李晓毅 樊克
• 来源期刊: 四川大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: Manhattan格点 自避行走 临界指数 有效配位数
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 47-51
• 页数: 5页
• 分类号: O24|TP3
• 字数: 2112字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0490-6756.2001.01.010

摘要

采用精确计数法，计算了二维Manhattan格点上端点附壁自避行走的构象数CN，均方末端距R2N，和均方回转半径Rg2N，最长链长分别达到50，50和35步。通过比率法和Pade近似法，处理精确计数数据得到有效配位数μ=1.73377，标度指数γ=0.934，v=0.7334。发现二维Manhattan格点上端点附壁自避行走的γ值和普通方格子上的相应值相同，且μ值与二维Manhattan格点上的自由SAW的相应值一致。由尺寸参数R2N，R2//，R2⊥，Rg2N，Rg2//和Rg2⊥随链长N的变化发现，壁对几何尺寸的影响十分明显。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴大诚	四川大学纺织学院	117	1144	16.0	26.0
2	李晓毅	四川大学纺织学院	3	7	2.0	2.0
3	樊克	四川大学纺织学院	3	8	2.0	2.0