电子元器件测试系统选型中的若干问题

• 作者: 孙铣
• 来源期刊: 世界产品与技术
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 语种: 中文

摘要

(接上期) 五、小型测试系统和中、大型测试系统 小型测试系统和中、大型测试系统究竟有哪些共同之处和不同之处,这是很多用户单位关心的问题. 1.数字测试系统 小型数字系统和中、大型数字系统的主要不同之处体现在以下方面:

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙铣		9	7	1.0	2.0