钽电容器和独石电容器应用中的失效分析

• 作者: 樊晓团 胡圣
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 固体电解质钽电容器 多层独石瓷介电容器 失效分析
• 年，卷（期）: 2001,（10）
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TM535

摘要

通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例，得出以下结论：（1）钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当，导致内部焊锡流动引起短路失效，应引起起装机工作人员高度重视；（2）通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析，找出独石瓷介电容器内部的质量问题在于介质中的缺陷，导致电极材料局部突起，以至发生离子迁移或短路失效。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊晓团		4	0	0.0	0.0
2	胡圣		2	0	0.0	0.0