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摘要:
提出采用离子注入方法提高主掩膜光刻胶的耐干法腐蚀和腐蚀窗口硅的腐蚀速率,实现了在比较简陋的干法腐蚀设备上采用反应离子腐蚀模式进行深/浅硅槽工艺。
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试验
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文献信息
篇名 一种新的深硅槽工艺技术
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 深硅槽 硅隔离
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 56-58
页数 3页 分类号 TN305.95
字数 952字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2001.03.016
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郑宜钧 1 0 0.0 0.0
2 王明善 1 0 0.0 0.0
3 贾永华 1 0 0.0 0.0
4 洪海燕 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
深硅槽
硅隔离
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
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