电子束焊接热冲击对GH4133A的微裂纹损伤研究

• 作者: 张彦华 张海泉 张行安 李刘合 马翔生
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 电子束焊 热冲击 热影响区微裂纹 损伤效应
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TG402|O346.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2001.02.011

摘要

电子束焊接是一个复杂的强瞬态的热冲击过程，包括发生在表层的热过程和发生在一定深度的应力波与材料的交互作用。本文基于电子束焊接热冲击效应分析了高温合金电子束焊接接头热影响区的微裂纹形成原因，研究了微裂纹损伤对GH4133A电子束接头高温力学性能的影响。结果表明，热冲击是高温合金电子束焊接热影响区的微裂纹损伤的主要原因，热冲击损伤效应导致接头力学性能的劣化。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李刘合		39	653	12.0	25.0
2	张彦华		94	1487	21.0	35.0
3	张行安		10	127	5.0	10.0
4	张海泉		8	193	7.0	8.0
5	马翔生		3	48	3.0	3.0