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摘要:
报道了4H-SiC混合PN/Schottky二极管的设计、制备和特性.该器件用镍作为肖特基接触金属,使用了结终端扩展(JTE)技术.在肖特基接触下的n型漂移区采用多能量注入的方法形成P区而组成面对面的PN结,这些PN结将肖特基接触屏蔽在高场之外,离子注入的退化是在1500℃下进行了30min.器件可耐压600V,在600V时的最小反向漏电流为1×10-3A/cm2.1000μm的大器件在正向电压为3V时电流密度为200A/cm2,而300μm的小尺寸器件在正向电压为3.5V电流密度可达1000A/cm2.
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文献信息
篇名 4H-SiC混合PN/Schottky二极管的研制
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 功率器件 碳化硅 半导体二极管 MPS
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目 研究快报
研究方向 页码范围 265-270
页数 6页 分类号 TN311+.7
字数 1327字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.03.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张义门 西安电子科技大学微电子所 129 835 15.0 21.0
2 张玉明 西安电子科技大学微电子所 126 777 15.0 20.0
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半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
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1980
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