基于AT P G的可测性设计在RSICCPU的应用

• 作者: 吕炳朝 周显文 石岭
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计:自动测试模式生成 故障覆盖率 测试模式
• 年，卷（期）: 2001,（10）
• 所属期刊栏目: EDA技术专栏
• 页码范围: 33-36
• 页数: 4页
• 分类号: TN407|TN402
• 字数: 3866字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2001.10.010

摘要

介绍了自动测试模式生成的测试故障模型和设计流程,以及自动测试模式生成结合可测性设计技术在测试RSIC CPU制造缺陷中的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕炳朝		37	370	11.0	18.0
2	周显文		1	0	0.0	0.0
3	石岭		1	0	0.0	0.0