光学玻璃光学均匀性高精度测量技术

• 作者: 丁泽钊 余景池 孙侠菲 郭培基
• 来源期刊: 光学技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光学材料的光学均匀性 检测 高精度
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 528-529,531
• 页数: 3页
• 分类号: TH706
• 字数: 2642字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-1582.2001.06.027

摘要

高质量的透射光学系统对光学材料的光学均匀性要求非常高,材料局部折射率10-6量级的变化就可能破坏整个系统的性能.详细介绍了三种用于测量光学玻璃光学均匀性的干涉法,研制了一台高精度光学玻璃材料光学均匀性测量仪.实验结果表明:40 mm左右厚的光学玻璃材料的光学均匀性检测精度可达1×10-6.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭培基	苏州大学现代光学技术研究所	25	387	12.0	19.0
2	余景池	苏州大学现代光学技术研究所	41	634	17.0	23.0
3	丁泽钊	苏州大学现代光学技术研究所	7	93	6.0	7.0
4	孙侠菲	苏州大学现代光学技术研究所	6	77	6.0	6.0