钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
文献导航
学科分类
>
综合
工业技术
科教文艺
医药卫生
基础科学
经济财经
社会科学
农业科学
哲学政法
社会科学II
哲学与人文科学
社会科学I
经济与管理科学
工程科技I
工程科技II
医药卫生科技
信息科技
农业科技
数据库索引
>
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
默认
篇关摘
篇名
关键词
摘要
全文
作者
作者单位
基金
分类号
搜索文章
搜索思路
钛学术文献服务平台
\
学术期刊
\
工业技术期刊
\
无线电电子学与电信技术期刊
\
半导体学报(英文版)期刊
\
高阻CdZnTe晶体的退火处理
高阻CdZnTe晶体的退火处理
作者:
刘冬华
史伟民
李万万
李冬梅
李道强
桑文斌
钱永彪
闵嘉华
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
CdZnTe热处理
Cd1-xZnx熔体蒸汽压
γ射线探测器
摘要:
获得高电阻率的、完整性好的CdZnTe晶体是研制高性能的CdZnTe γ射线探测器的关键.运用热力学关系估算了Cd1-xZnx熔体平衡分压,尝试以Cd1-xZnx合金源替代Cd源进行Cd0.8Zn0.2Te晶片的热处理,研究了退火对Cd0.8Zn0.2Te晶片质量的影响.结果表明:在1069K下用Cd0.8Zn0.2合金源(PZn=0.122×105Pa和PCd=1.20×105Pa)对Cd0.8Zn0.2Te晶片退火5天以上,可提高晶体电阻率一个数量级和晶体红外透过率10%以上,并可消除或减小晶片中的Te沉淀,同时避免了Zn的损失,改善Zn的径向分布.可见,采用Cd1-xZnx合金源代替Cd源控制进行CZT退火处理优于仅采用Cd源控制的退火处理.
暂无资源
收藏
引用
分享
推荐文章
退火处理对CdZnTe晶体光电性能的影响
CdZnTe晶体
红外透过率
Cd间隙
退火
低阻值In掺杂CdZnTe晶体的退火改性
CdZnTe晶体
退火
红外透过率
PL谱
高阻In掺杂CdZnTe晶体缺陷能级的研究
碲锌镉
低温PL
深能级瞬态谱
缺陷能级
CdZnTe表面处理对其引线超声焊接质量的影响
CdZnTe晶片
超声焊接
表面处理
电极厚度
内容分析
文献信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
高阻CdZnTe晶体的退火处理
来源期刊
半导体学报
学科
关键词
CdZnTe热处理
Cd1-xZnx熔体蒸汽压
γ射线探测器
年,卷(期)
2001,(5)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
294-598
页数
5页
分类号
字数
2597字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2001.05.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
桑文斌
上海大学嘉定校区电子信息材料系
53
535
15.0
20.0
2
闵嘉华
上海大学嘉定校区电子信息材料系
54
281
10.0
15.0
3
钱永彪
上海大学嘉定校区电子信息材料系
14
108
6.0
10.0
4
李万万
上海大学嘉定校区电子信息材料系
12
98
6.0
9.0
5
史伟民
上海大学嘉定校区电子信息材料系
56
313
10.0
14.0
6
李冬梅
上海大学嘉定校区电子信息材料系
15
154
6.0
12.0
7
刘冬华
上海大学嘉定校区电子信息材料系
4
20
2.0
4.0
8
李道强
上海大学嘉定校区电子信息材料系
2
6
1.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(0)
共引文献
(0)
参考文献
(5)
节点文献
引证文献
(6)
同被引文献
(4)
二级引证文献
(5)
1989(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1996(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1997(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1998(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1999(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2001(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
2003(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2004(2)
引证文献(2)
二级引证文献(0)
2006(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2007(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2008(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
2010(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2013(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2014(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2015(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
2016(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
CdZnTe热处理
Cd1-xZnx熔体蒸汽压
γ射线探测器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:
the National Natural Science Foundation of China
官方网址:
http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:
青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:
数理科学
期刊文献
相关文献
1.
退火处理对CdZnTe晶体光电性能的影响
2.
低阻值In掺杂CdZnTe晶体的退火改性
3.
高阻In掺杂CdZnTe晶体缺陷能级的研究
4.
CdZnTe表面处理对其引线超声焊接质量的影响
5.
NMOS晶体管的退火特性研究
6.
Cd气氛退火对CdZnTe晶片质量影响
7.
晶体管热阻测试系统的设计与实现
8.
基于高能γ源的CdZnTe成像探测器极化效应研究
9.
CdZnTe 像素探测器的制备与表征
10.
CdZnTe晶体生长中掺In量对晶体电学性能的影响
11.
注入Nb+的蓝宝石晶体退火前后的光学分析
12.
NPN双极晶体管的ELDRS效应及退火行为
13.
中间退火对高纯铝箔立方织构的影响
14.
退火处理对粉末冶金CrFeCoNiTi0.2高熵合金组织和性能的影响
15.
功率晶体管热阻测试条件确定方法
推荐文献
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
学术导航
任务中心
论文润色
登录
根据相关规定,获取原文需跳转至原文服务方进行注册认证身份信息
完成下面三个步骤操作后即可获取文献,阅读后请
点击下方页面【继续获取】按钮
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
原文合作方
继续获取
获取文献流程
1.访问原文合作方请等待几秒系统会自动跳转至登录页,首次访问请先注册账号,填写基本信息后,点击【注册】
2.注册后进行实名认证,实名认证成功后点击【返回】
3.检查邮箱地址是否正确,若错误或未填写请填写正确邮箱地址,点击【确认支付】完成获取,文献将在1小时内发送至您的邮箱
*若已注册过原文合作方账号的用户,可跳过上述操作,直接登录后获取原文即可
点击
【获取原文】
按钮,跳转至合作网站。
首次获取需要在合作网站
进行注册。
注册并实名认证,认证后点击
【返回】按钮。
确认邮箱信息,点击
【确认支付】
, 订单将在一小时内发送至您的邮箱。
*
若已经注册过合作网站账号,请忽略第二、三步,直接登录即可。
期刊分类
期刊(年)
期刊(期)
期刊推荐
一般工业技术
交通运输
军事科技
冶金工业
动力工程
化学工业
原子能技术
大学学报
建筑科学
无线电电子学与电信技术
机械与仪表工业
水利工程
环境科学与安全科学
电工技术
石油与天然气工业
矿业工程
自动化技术与计算机技术
航空航天
轻工业与手工业
金属学与金属工艺
半导体学报(英文版)2022
半导体学报(英文版)2021
半导体学报(英文版)2020
半导体学报(英文版)2019
半导体学报(英文版)2018
半导体学报(英文版)2017
半导体学报(英文版)2016
半导体学报(英文版)2015
半导体学报(英文版)2014
半导体学报(英文版)2013
半导体学报(英文版)2012
半导体学报(英文版)2011
半导体学报(英文版)2010
半导体学报(英文版)2009
半导体学报(英文版)2008
半导体学报(英文版)2007
半导体学报(英文版)2006
半导体学报(英文版)2005
半导体学报(英文版)2004
半导体学报(英文版)2003
半导体学报(英文版)2002
半导体学报(英文版)2001
半导体学报(英文版)2000
半导体学报(英文版)2001年第9期
半导体学报(英文版)2001年第8期
半导体学报(英文版)2001年第7期
半导体学报(英文版)2001年第6期
半导体学报(英文版)2001年第5期
半导体学报(英文版)2001年第4期
半导体学报(英文版)2001年第3期
半导体学报(英文版)2001年第2期
半导体学报(英文版)2001年第12期
半导体学报(英文版)2001年第11期
半导体学报(英文版)2001年第10期
半导体学报(英文版)2001年第1期
关于我们
用户协议
隐私政策
知识产权保护
期刊导航
免费查重
论文知识
钛学术官网
按字母查找期刊:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
其他
联系合作 广告推广: shenyukuan@paperpass.com
京ICP备2021016839号
营业执照
版物经营许可证:新出发 京零 字第 朝220126号