镍基双晶晶界疲劳屏蔽效应

• 作者: 万建松 卢智先 岳珠峰 耿晓亮
• 来源期刊: 机械科学与技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双晶 疲劳 晶界 屏蔽效应
• 年，卷（期）: 2001,（z1）
• 页码范围: 54-56
• 页数: 3页
• 分类号: TG11
• 字数: 1364字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-8728.2001.z1.017

摘要

对晶界平行裂纹和晶界垂直裂纹的双晶体进行三点弯曲疲劳实验,研究了双晶晶界的疲劳裂纹扩展规律,测定了双晶的疲劳扩展速率,揭示了晶界对晶粒疲劳裂纹扩展的屏蔽效应:当裂纹距晶界某一特定长度时,裂纹扩展速度最快;而裂纹顶端交于晶界时,裂纹扩展速度最慢.进一步的晶体滑移有限元数值分析揭示了这种屏蔽效应的机理:裂纹的扩展速度与裂纹顶端的应力场,而裂纹顶端的应力场又与晶粒和晶界的相对位置有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	卢智先	西北工业大学工程力学系	24	294	10.0	17.0
2	岳珠峰	西北工业大学工程力学系	376	3386	26.0	39.0
3	万建松	西北工业大学工程力学系	22	175	7.0	12.0
4	耿晓亮	西北工业大学工程力学系	4	17	2.0	4.0