基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
通过电子束和接触式曝光相结合的混合曝光方法,并利用复合胶结构,一次电子束曝光制作出具有T型栅的PHEMT器件,并对0.1μm栅长PHEMT器件的整套工艺及器件性能进行了研究.形成了一整套具有新特点的PHEMT器件制作工艺,获得了良好的器件性能(ft=93.97GHz;gm=690mS/mm).
推荐文章
硅膜厚度对0.1μm SOI槽栅NMOS器件特性的影响
SOI
槽栅MOS器件
短沟道效应
热载流子效应
PHEMT器件界面态分析方法综述
高电子迁移率场效应晶体管
砷化镓器件
界面态
GaAs PHEMT器件的失效模式及机理
砷化镓晶体管
失效模式
失效机理
一种高性能快速关断型槽栅 MOS 器件
金属场板
巴利加优值
栅漏电容
氧化槽
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 0.1μm T型栅PHEMT器件
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 二维电子气 电子束光刻 混合曝光 PHEMT T型栅
年,卷(期) 2001,(4) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 476-480
页数 5页 分类号 TN386
字数 2185字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.04.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘明 中国科学院微电子中心 207 1983 20.0 38.0
2 吴德馨 中国科学院微电子中心 58 345 11.0 14.0
3 和致经 中国科学院微电子中心 36 229 9.0 13.0
4 郑英奎 中国科学院微电子中心 15 43 4.0 6.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2001(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
二维电子气
电子束光刻
混合曝光
PHEMT
T型栅
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
总被引数(次)
35317
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导