光盘防刻死技术探究

• 作者: 唐贵平 孔凡志
• 来源期刊: 电声技术
• 学科: 工学
• 关键词: 缓冲区欠载 BRUN-Proof技术 Just Link技术
• 年，卷（期）: 2001,（11）
• 所属期刊栏目: 网络与多媒体
• 页码范围: 52-54
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 2644字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8684.2001.11.016

摘要

指出了缓冲区欠载是光盘刻死的最主要原因,针对缓冲区欠载详细介绍了避免刻录失败的各种方法,并对BRUN-Proof技术和Just Link技术的基本原理进行了分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孔凡志	长沙电力学院物理与信息工程系	17	101	5.0	9.0
2	唐贵平	长沙电力学院物理与信息工程系	17	48	4.0	5.0