复杂设备BIT系统几种典型虚警的数学分析

• 作者: 徐永成 易晓山 温熙森
• 来源期刊: 系统工程与电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试技术 故障诊断 数学模型 虚警概率
• 年，卷（期）: 2001,（12）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN06
• 字数: 4313字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-506X.2001.12.003

摘要

机内测试(Built-in Test,BIT)技术是改善系统或设备测试性和诊断能力的重要途径,它能够提高设备内部检测和隔离故障的能力、简化设备维修、降低全寿命周期费用,但是较高的虚警率一直是阻碍BIT广泛应用的一个重要原因.在对复杂设备BIT系统建立数学模型的基础上,分析了BIT系统几种常见虚警的机理模式,并以此提出了相应的技术解决路线,这对BIT系统的故障诊断设计具有参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐永成	国防科大机械电子工程与仪器系	1	7	1.0	1.0
2	温熙森	国防科大机械电子工程与仪器系	1	7	1.0	1.0
3	易晓山	国防科大机械电子工程与仪器系	1	7	1.0	1.0