低辐射薄膜TiO2-Ag-TiO2-siO的纳米尺度显微结构

• 作者: 于荣 李斗星 詹倩 贺连龙 郭晓楠
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: 低辐射薄膜 微观结构 HREM 纳米束分析
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 页码范围: 337-339
• 页数: 3页
• 分类号: O484.1|TG115.21
• 字数: 1804字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0412-1961.2001.04.001

摘要

成功地制备了TiO2-Ag-TiO2-SiO超薄多层膜的截面样品,并对其微观结构进行TEM,HREM及纳米束EDS分析.结果表明,薄膜各层厚度均匀,界面明锐、光滑.Ag层由纳米晶组成,而TiO2和SiO层为非晶.Ag在膜层中没有扩散或聚团,这也正是保证整个薄膜性能指标的一个重要因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贺连龙	中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室	25	118	7.0	10.0
2	李斗星	中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室	33	186	9.0	13.0
3	詹倩	中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室	3	56	2.0	3.0
4	于荣	中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室	2	26	2.0	2.0
5	郭晓楠	上海交通大学材料学院	2	32	2.0	2.0