hERG通道细胞外侧S5-P环点突变对该通道的门控特性和 离子通透性的变构影响

• 作者: 顿文
• 来源期刊: 山西医科大学学报
• 学科: 医学
• 关键词: 钾通道 LQT2 突变 离子选择性 C- 型灭活 离子通道闸门
• 年，卷（期）: 2001,（z1）
• 所属期刊栏目: 科研论著
• 页码范围: 64-68
• 页数: 5页
• 分类号: R329.2+8|R966
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-6611.2001.z1.018

摘要

hERG为延迟整流钾电流快成分(Ikr)的基因，hERG通 道在S5跨膜片段和孔区之间有一长的细胞外环，大约39个氨基酸，这一细胞外S5-P环的点 位突变与遗传性长QT(LQT2)综合征有密切联系。因此，这一区域在决定hERG通道功能方面具 有非常重要的意义。应用先进的分子生物学方法将这一区域的两个组氨酸残基(H578和H587) 突变为脯氨酸(P)，利用青蛙卵母细胞这一表达系统将wild-type和突变的hERG通道表达于 该细胞膜，通过膜片钳技术来探讨点突变与通道功能改变之间的关系，实验研究表明在578 位置的组氨酸(H1)突变并不影响HERG通道功能，然而，在587位置的组氨酸(H2)突变就 可破坏该通道的C-型灭活过程和孔的K+选择性，通道激活的电压依赖性也向超极化侧移动 ，这一现象说明，hERG通道细胞外侧S5-P环围绕587位置肽段骨架的构象变化能够影响该通 道的门控特性和离子选择性功能。因此，该研究揭示了HERG通道S5-P环的587位置突变和LQ T2 Ikr功能丧失之间有着密切联系。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	顿文	哥伦比亚大学药理系	1	0	0.0	0.0