减小平面近场测量中多次反射误差的新方法

• 作者: 刘其中 张福顺 毛乃宏 焦永昌
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 平面近场测量 多次反射误差 超低副瓣天线 补偿方法
• 年，卷（期）: 2001,（7）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 1003-1005
• 页数: 4页
• 分类号: TN820
• 字数: 2202字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2001.07.040

摘要

本文给出了用平面近场技术测量超低副瓣天线时，平面近场测量总误差与天线远场方向图副瓣电平的误差方程，并进行了计算机仿真；提出了减小平面近场测量中探头天线与待测天线间多次反射误差和微波暗室电特性误差对超低副瓣天线所引入的测量误差的“自校准法”，实验结果说明该方法是解决平面近场测量中多次反射和微波暗室电特性误差较为理想的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘其中	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	130	1413	19.0	31.0
2	焦永昌	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	99	1155	17.0	27.0
3	张福顺	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	75	876	16.0	25.0
4	毛乃宏	西安电子科技大学天线与电磁散射研究所	27	107	7.0	8.0