Cd1-xZnxTe合金的退火研究

• 作者: 何力 刘从峰 方维政 杨建荣 王兴军 王福建 魏彦锋 黄大鸣
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: CdZnTe 红外透射谱 喇曼散射
• 年，卷（期）: 2001,（8）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 992-995
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.2+6
• 字数: 3247字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.08.008

摘要

用红外透射谱和喇曼散射谱研究了退火对Cd1-xZnxTe晶片中Te沉淀的影响．研究结果表明，红外透射谱只对大尺寸的Te沉淀较为敏感，而喇曼散射谱却能够探测到样品中小尺寸的Te沉淀，两者互为补充．在Cd气氛下对晶片进行退火处理，选择合适的退火温度和退火时间，可以有效地消除晶片中大尺寸的Te沉淀，却难以消除晶片中小尺寸的微量Te沉淀．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王兴军		4	23	3.0	4.0
2	黄大鸣		7	15	2.0	3.0
3	魏彦锋	中国科学院上海技术物理研究所	22	117	6.0	9.0
4	杨建荣	中国科学院上海技术物理研究所	38	175	7.0	11.0
5	何力	中国科学院上海技术物理研究所	54	417	13.0	17.0
6	方维政	中国科学院上海技术物理研究所	20	91	6.0	8.0
7	刘从峰	中国科学院上海技术物理研究所	8	30	3.0	5.0
8	王福建		1	5	1.0	1.0