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电解有机溶液法在Si表面制备类金刚石薄膜及退火对其结构的影响
电解有机溶液法在Si表面制备类金刚石薄膜及退火对其结构的影响
作者:
李龙土
桂治轮
蔡锴
郭栋
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
类金刚石薄膜
退火
摘要:
在对不同有机溶剂分子结构分析的基础上,选取甲醇、DMF(N,N-二甲基甲酰胺)和乙腈溶液为碳源,以脉冲直流电源电解有机溶液的方法在Si片上制得了含氢类金刚石薄膜(DLC薄膜),并研究了退火对薄膜结构的影响.通过X射线光电子能谱(XPS),喇曼(Raman)和红外(IR)光谱对薄膜的结构进行了分析表征.XPS表明薄膜的主要成分为C,喇曼光谱显示所得薄膜为典型DLC薄膜.喇曼和红外光谱还表明,膜中含有大量H并且主要键合于sp3碳处.随着退火的进行薄膜中的H被去除.随温度升高薄膜电阻率的下降及喇曼峰形和峰位置的变化表明,C的价键结构逐渐从sp3转化为sp2结构,即薄膜经历了一石墨化过程.通过三种溶液中所得薄膜的物理性能和各谱图特征几乎相同的事实和对三种溶液分子结构的比较推测,甲基为此液相制备DLC薄膜法的功能团,更有效的C源可从高介电常量的含甲基极性溶剂中选取.
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文献信息
篇名
电解有机溶液法在Si表面制备类金刚石薄膜及退火对其结构的影响
来源期刊
物理学报
学科
物理学
关键词
类金刚石薄膜
退火
年,卷(期)
2001,(12)
所属期刊栏目
凝聚物质:结构、热学和力学性质
研究方向
页码范围
2413-2417
页数
5页
分类号
O4
字数
2989字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:1000-3290.2001.12.024
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
李龙土
清华大学材料科学与工程系
122
1435
22.0
31.0
2
桂治轮
清华大学材料科学与工程系
71
920
17.0
27.0
3
郭栋
清华大学材料科学与工程系
24
149
7.0
11.0
4
蔡锴
清华大学材料科学与工程系
4
64
4.0
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引证文献(0)
二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
类金刚石薄膜
退火
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
主办单位:
中国物理学会
中国科学院物理研究所
出版周期:
半月刊
ISSN:
1000-3290
CN:
11-1958/O4
开本:
大16开
出版地:
北京603信箱
邮发代号:
2-425
创刊时间:
1933
语种:
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:
the National Natural Science Foundation of China
官方网址:
http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:
青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:
数理科学
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