用于测试CMOS输出驱动器电流变化率的新电路

• 作者: 任俊彦 徐志伟 徐栋麟 郭新伟
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 同步开关噪声 输出驱动器电流变化率 CMOS
• 年，卷（期）: 2001,（8）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1075-1080
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 4187字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2001.08.025

摘要

提出了一种新的用于测试CMOS输出驱动器电流变化率的电路结构．它把片上电感引入到测试系统中作为对实际封装寄生电感的等效，从而排除了测试时复杂的芯片-封装界面的影响．这种电路结构不仅可以用于实际测算输出驱动器的性能指标，还可以用于研究VLSI电路中的同步开关噪声问题．该设计方法在新加坡特许半导体公司的0.6μm CMOS工艺线上进行了流片验证．测试结果表明，这一测试结构能有效地表征CMOS输出驱动器的电流变化率的性能指标和VLSI电路中的同步开关噪声特性．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭新伟		4	6	2.0	2.0
2	任俊彦		116	450	11.0	14.0
3	徐栋麟		7	60	5.0	7.0
4	徐志伟		9	126	4.0	9.0