提高单片机设计硬件可靠性的一般方法

• 作者: 李永亮
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 单片机 可靠性 电路设计 元件选择 机构设计
• 年，卷（期）: 2001,（4）
• 所属期刊栏目: 计算机应用与技巧
• 页码范围: 72-73
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2001.04.026

摘要

分析了影响单片机测控系统可靠性的因素及应采取的措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李永亮		3	19	2.0	3.0