以单片机8031为核心的TTL集成电路逻辑测试器

• 作者: 程春红
• 来源期刊: 电工技术
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 36
• 页数: 1页
• 字数: 419字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1388.2001.03.018

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程春红	湖南工程学院电气系	9	9	2.0	2.0