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摘要:
【正】 Y2000-62562-64 0103565硅化物(含3篇文章)=Silicide[会,英]//Proceedings ofthe IEEE 2001 International Interconnect TechnologyConference.—62~72(ZC)本部分的3篇文章介绍了掺杂硅衬底上 PECVD-Ti 硅化物薄膜的不规则生长,0.15μm CMOS 器件采用快速热退火的钨多晶硅栅的反应势垒形成,以及亚0.2μm 金属位线接触的 PECVD-Ti 工艺中 TiCl<sub>4</sub>预处理的作用。
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篇名 其它材料
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 硅化物 快速热退火 多晶硅栅 预处理 线接触 硅衬底 绝缘材料 双轴拉伸聚丙烯薄膜 聚合物 不规则
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 7-8
页数 2页 分类号 TN
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节点文献
硅化物
快速热退火
多晶硅栅
预处理
线接触
硅衬底
绝缘材料
双轴拉伸聚丙烯薄膜
聚合物
不规则
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
出版文献量(篇)
10413
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1
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71
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