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摘要:
【正】 Y2000-62422-104 0103786半导体上绝缘体——用于片上系统的一种新型材料组合=IOS-a new type of materials combination for system-on-a chip preparation[会,英]/Tong,Q-Y.& Huang,L-J.//1999 IEEE International SOI Conference Pro-ceedings.—104~105(EC)Y2000-62422-114 0103787在绝缘体上硅硅片上应用 SC1标准清洗薄化硅膜=Thinning of Si in SOI wafers by the SC1 standard clean[会,英]/Celler,G.K.& Barr,D.L.//1999 IEEEInternational SOI Conference Proceedings.—114~115(EC)
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热处理工艺
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 热处理与表面处理工艺
来源期刊 电子科技文摘 学科 工学
关键词 表面处理工艺 热处理 绝缘体上硅 片上系统 材料组合 半导体 清洗 硅膜 硅片 新型
年,卷(期) 2001,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 27-27
页数 1页 分类号 TN
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研究主题发展历程
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表面处理工艺
热处理
绝缘体上硅
片上系统
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半导体
清洗
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硅片
新型
研究起点
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研究分支
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期刊影响力
电子科技文摘
月刊
1009-0851
11-4388/TN
16开
1999
chi
出版文献量(篇)
10413
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1
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71
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