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集成电路芯片的测试接口单元
集成电路芯片的测试接口单元
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摘要：
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基于PCI总线集成电路测试仪接口设计
PCI总线
PCI9030
FPGA
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驱动程序
集成电路老化测试系统的数据通信接口设计
集成电路
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接口设计
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期刊影响力
电子测试
主办单位：
北京自动测试技术研究所
出版周期：
半月刊
ISSN：
1000-8519
CN：
11-3927/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市100098－002信箱
邮发代号：
82-870
创刊时间：
1994
语种：
chi
出版文献量（篇）
19588
总下载数（次）
63
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