综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正

• 作者: 吴季 姜景山 张升伟 董晓龙 黄永辉
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 干涉式综合孔径 微波辐射计 互耦 校正
• 年，卷（期）: 2001,（9）
• 所属期刊栏目: 科研通信
• 页码范围: 1280-1282
• 页数: 3页
• 分类号: TP722.6
• 字数: 3476字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2001.09.037

摘要

本文建立了综合孔径微波辐射计天线单元之间互耦对于综合孔径成像的影响的模型,分析了天线单元之间的互耦对于综合孔径微波辐射计分辨率的影响.给出了校正天线单元互耦作用影响的方法,在此基础上提出了一种综合孔径微波辐射计的定标方法.通过数值模拟,证明了所提出的方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴季	中国科学院空间科学与应用研究中心	67	516	13.0	21.0
2	董晓龙	中国科学院空间科学与应用研究中心	44	344	10.0	17.0
3	姜景山	中国科学院空间科学与应用研究中心	63	692	15.0	23.0
4	张升伟	中国科学院空间科学与应用研究中心	50	533	11.0	22.0
5	黄永辉	中国科学院空间科学与应用研究中心	13	68	3.0	8.0