纯金属Bi中高能重离子辐照效应

• 作者: Dufour E.Paumier J.Dural Toulemonde 王志光 金运范
• 来源期刊: 科学通报
• 学科: 物理学
• 关键词: 重离子辐照纯金属铋辐照损伤效率电子能损效应
• 年，卷（期）: 2001,（12）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 992-995
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 2836字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0023-074X.2001.12.006

摘要

利用高能重离子(Kr,Xe,Sn和Pb)辐照处于16或100 K的低熔点纯金属Bi,通过测量分析辐照引起的样品电阻率增量及其变化速率随辐照剂量的变化,研究了入射离子在Bi中引起的辐照损伤效应如辐照损伤效率及复杂缺陷的产生等.结果表明,强的电子能损可在纯金属Bi中引起附加缺陷的产生,从而使得辐照损伤效率>1.电子能损值大时,入射离子在Bi中引起的辐照效应主要是电子能损效应.辐照温度和入射离子速度对辐照效应的强弱有一定的影响.