可靠性工程与环境工程

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性增长 电子产品可靠性 环境试验 密封器件 气体分析方法 失效模式 内部气体分析 测试与诊断 电子设备可靠性 管理技术
• 年，卷（期）: 2001,（6）
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: TN

摘要

【正】 Y2000-62525-659 0109289现代快恢复二极管的反向恢复失效模式=Reverse re-covery failure modes in modern fast recovery diodes[会,英]/Rahimo,M & Shammas,N.//2000 IEEE Pro-ceedings of 22nd International Conference on Microelec-tronics,Vol.2.—659～662(EC)0109290密封器件内部气体分析方法综述[刊]/陈冬梅//电子产品可靠性与环境试验.—2001,(1).—34～39(D)密封器件内部气体分析方法,可广泛用于微电子、航空航天、金属、陶瓷、食品、医药、化工等涉及材料、气体变化的领域,并且可以贯穿于产品的整个寿命周期。介绍了密封器件内部气体分析方法的背景、仪器及其应用。参30109291有效的可靠性增长管理技术[刊]/田开让//电子产品可靠性与环境试验.—2001,(1)—20～24(D)可靠性增长是提高航空电子设备可靠性的重要途径,已为军方和工厂企业所重视。有效的可靠性增长