铝质电瓷断口分形研究与分维测量

• 作者: 杨志远
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 电瓷断口 分维 分形理论 小岛法
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 18-20
• 页数: 3页
• 分类号: TM216.2|TM287|TQ174.754
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2002.05.007

摘要

利用SEM和反光显微镜研究铝质电瓷断口分形特征,采用改进小岛法测量断口分维值,结果表明:电瓷断口具统计意义分形,不同放大倍数测得断口分维值不同.分维值与电瓷强度的关系为低倍数下呈负相关,高倍数下呈正相关.分维值受图像灰度阀值、测量方法影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨志远	西安科技学院材料科学与工程系	59	409	12.0	17.0