新一代手提式多元素X荧光仪在地质普查中的应用

• 作者: 林延畅 葛良全 赖万昌
• 来源期刊: 物探与化探
• 学科: 地球科学
• 关键词: 原位X荧光分析 干扰因素与校正 地质普查 异常追索
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 仪器设备
• 页码范围: 325-328
• 页数: 4页
• 分类号: P631.6
• 字数: 2778字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8918.2002.04.021

摘要

现场X射线荧光分析的主要影响因素是基体效应、湿度效应和不平度效应等.基于室内、野外大量实验,结合软件技术,在新一代手提式多元素X荧光仪中,综合运用强度影响系数法、特散比及经验系数法,使多元素现场X荧光快速分析技术取得实用性进展.地质大调查中,在样品多元素快速测试,野外土壤、岩石的原位分析,异常追索查证等方面的应用,充分体现出轻便、快速、高效、低投入的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	赖万昌	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	150	873	15.0	20.0
3	林延畅	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	34	328	11.0	16.0