VXI总线测试系统的优化方案

• 作者: 孔敏 鞠建波
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 VXI总线 消息基器件 寄存器基器件 测试吞吐量 优化
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 51-54
• 页数: 4页
• 分类号: TP336
• 字数: 3408字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893X.2002.05.012

摘要

概述了VXI总线器件的分类,讨论了VXI总线消息基器件和寄存器基器件的特点,以及在测试系统中2种器件对测试吞吐量和程序设计的影响,并提出了优化测试系统的方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	鞠建波	海军航空工程学院电子工程系	59	462	9.0	19.0
2	孔敏	海军航空工程学院电子工程系	8	32	3.0	5.0