镍电极电化学性能研究——电镀钴层和添加二氧化锰的影响

• 作者: 余兴增 蔡长寿 郑辅养
• 来源期刊: 电源技术
• 学科: 工学
• 关键词: 镍电极 镀钴层 二氧化锰
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 284-287
• 页数: 4页
• 分类号: TM912.1
• 字数: 3718字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-087X.2002.04.008

摘要

通过充放电曲线和交流阻抗谱的测定及循环伏安试验,探讨了添加二氧化锰和在镍箔上电镀钴层对氢氧化镍粉末压制的镍电极性能的影响.结果表明,镍箔上的镀钴层在充电过程中可被氧化为导电性良好的CoOOH,为氢氧化镍粒子与镍基体之间提供良好的电子通道,CoOOH也可通过迁移、扩散,在氢氧化镍粒子之间提供良好的电子通道,从而降低电极的扩散电阻,增加其质子导电性,提高Ni(OH)2/NiOOH的氧化还原可逆性,提高活性物质的利用率及镍电极的放电容量;而二氧化锰和钴镀层的协同作用可进一步提高电极的扩散传质性能,显著提高其容量和容量保持率.