BGA和LGA插座寿命接触电阻特性

• 作者: 闻春国
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: BGA/LGA插座 组合球 金属填料 接触电阻 氧化 腐蚀 接触力 接触件电压降
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 19-24
• 页数: 6页
• 分类号: TM503+.5
• 字数: 4889字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2002.02.007

摘要

导电接触面基本上确定了BGA和LGA插座的寿命接触电阻。对导电聚合物阵列组合球来说，只是在配合表面发生物理接触时，其导电微粒才会产生电接触。由于环境污染，电接触面可能会形成电阻较高的锈蚀薄膜，这些绝缘膜侵入接触面将会导致接触电阻的升高。BGA和LGA插座接触表面的腐蚀或氧化过程的典型特征是在非接触面首先发生腐蚀或氧化，然后进入接触面。电接触件的失效可以定义为电接触面积减小，致使电流不在设计规范值内通过。根据扩散和电接触基础理论，我们建立了一种动态方法。它表明BGA和LGA插座寿命接触电阻特性不仅取决于接触材料和工作环境，也取决于所施加的机械接触力和接触面之间的电压降。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	闻春国		6	3	1.0	1.0