技术报告(类型2)——电连接器的可靠性预计(IEC 61586—1997)

• 作者: 汪其龙
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 电连接器 可靠性预计 失效率 失效模式 失效机理
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 21-29
• 页数: 9页
• 分类号: TM503+.5
• 字数: 7997字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2002.04.005

摘要

从电连接器的实际工程应用出发，仅考虑接触电阻变化这一失效模式，并依据腐蚀、应力松弛和镀层磨损三种主要影响接触电阻稳定性的失效(衰变)机理，拟定一个试验程序并对规定的试验推导出加速系数，然后，选定适用于鉴定程序数据的处理方法来预计可靠性。