银包套Bi2223多芯带材局部临界电流的变化对整个长样带材性能的影响

• 作者: 戴少涛 林良真 王银顺 肖立业 舒立
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 页码范围: 218-223
• 页数: 6页
• 分类号: O51
• 字数: 3348字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2002.03.012

摘要

本文研究了Bi2223高温超导带材在自场和77K温度下,局部临界电流的统计特性对整根长样带材临界电流特性的影响.一般地,超导带材的I～V特性由标准的幂指数模型参数Ic和n值来描述,并以1μV/cm作为临界电流的判据;通过测量局部带材的临界电流I～V特性,得到了整根带材的临界电流特性;并通过统计方法,得到了局部带材临界电流分布的高斯几率分布函数.结果表明,带材局部临界电流分布不均匀,局部临界电流的变化对整个带材的临界电流影响很大;并用统计学的方法对长样带材的临界电流性能进行了分析和讨论.