彩色PDP荧光粉的劣化研究

• 作者: 卜忍安 王文江 蔡红红
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: PDP 荧光粉 工序劣化 历时劣化
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 197-200
• 页数: 4页
• 分类号: TN949.16
• 字数: 2477字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-7032.2002.02.020

摘要

彩色等离子体平板显示器件已经成为信息显示领域重要发展方向之一,荧光粉对PDP器件的性能起着决定性的作用.PDP中的荧光粉是通过丝网印刷的方法涂敷的.荧光粉在制成丝网印刷用荧光粉浆料过程中,以及制成PDP器件的过程中,都可能使荧光粉的性能降低,这就是工序劣化.在制成PDP器件后,荧光粉的性能还会随着使用时间的延长进一步降低,这就是历时劣化.本文分析了荧光粉的工序劣化和历时劣化产生的原因,设计制作了单色PDP试验屏,采用CRT Color Analyzer(CA-100)测量了荧光粉在PDP器件中的色坐标,并与荧光粉生产厂家提供的色坐标进行比较,从而获得了荧光粉的工序劣化和历时劣化值.试验结果表明,绿粉(Zn2SiO4:Mn2+)和蓝粉(BaMgAl10O17:Eu2+)的工序劣化较严重,蓝粉的历时劣化最严重,其y坐标增大10%,x坐标增大5%.我们认为改进荧光粉浆料成份和配比,从而降低荧光粉的烧结温度以及采用比表面积大的荧光粉颗粒,有助于改善工序劣化;改进MgO的性能,提高其溅射能力以及采用新的驱动方法以避免荧光粉遭受离子轰击,将有助于改善历时劣化.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王文江	西安交通大学电子物理与器件研究所	14	57	4.0	7.0
2	卜忍安	西安交通大学电子物理与器件研究所	17	74	4.0	8.0
3	蔡红红	西安交通大学电子物理与器件研究所	2	49	2.0	2.0