硫化镉薄膜的XPS研究

• 作者: 冯庆 刘亚静 刘高斌 廖克俊 王万录 郭江
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 硫化镉 真空蒸发 X射线光电子能谱仪
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 141-144
• 页数: 4页
• 分类号: TK519
• 字数: 1704字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-488X.2002.03.004

摘要

用XPS分析了CdS薄膜的结构.硫化镉薄膜是用化学沉积法制备的胶体颗粒,然后再通过真空蒸发法在平面玻璃上形成的多晶薄膜.XPS分析表明CdS薄膜中的Cd3d和S2p峰值均比块状CdS向高能方向偏移了10 eV.这主要是由于表面效应所致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王万录	重庆大学数理学院应用物理系	109	849	16.0	22.0
3	廖克俊	重庆大学数理学院应用物理系	66	513	12.0	19.0
5	刘高斌	重庆大学数理学院应用物理系	37	310	12.0	15.0
7	冯庆	重庆大学数理学院应用物理系	16	184	9.0	13.0
8	刘亚静	重庆大学数理学院应用物理系	4	44	3.0	4.0
9	郭江	重庆大学数理学院应用物理系	10	51	4.0	7.0