数字集成电路芯片微机检测法

• 作者: 蒋万君
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 芯片 检测 组合逻辑电路 时序逻辑电路 可编程并行接口8255A
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 仿真与测试
• 页码范围: 18-20
• 页数: 3页
• 分类号: TN7
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2002.04.007

摘要

用可编程并行接口8255A设计一个PC机的接口电路,该电路用来检测数字集成电路芯片的好坏,具有成本低、效率高、可靠性好等优点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋万君	重庆三峡学院计算机科学系	15	11	2.0	2.0