X射线荧光光谱法测定高纯石墨中的硫

• 作者: 曹冬梅 盛向军 陈新
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 石墨电极粉 背景校正
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 页码范围: 250-252
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1509字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2002.02.030

摘要

采用X射线荧光光谱法测定出口高纯石墨中的硫,代替传统的化学分析方法.原样品粉末直接压片,标准样品采用国标焦炭样品和淀粉按比例混匀经研磨后压片,采用散射线背景校正法校正基体的影响,效果良好,简便易行.本方法的精密度与准确度均较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈新	辽宁出入境检验检疫局技术中心	10	44	4.0	6.0
2	盛向军	辽宁出入境检验检疫局技术中心	19	51	5.0	7.0
3	曹冬梅	辽宁出入境检验检疫局技术中心	14	107	6.0	10.0